您的位置： 首頁 > 產品中心 > > 光譜亮度計 > SS200LM弱光微光亮度計

弱光微光亮度計

簡要描述：弱光微光亮度計，采用 SMT32芯片、嵌入式系統，高速16位AD取樣精度高，精密放大電源電路、低功耗，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。

產品品牌：雙色云譜
廠商性質：生產廠家
更新時間：2023-07-06
訪問量：868

產品目錄Product center

相關文章Related articles

詳細介紹

品牌	雙色云譜	適用行業	電子電器
產地	國產	加工定制	是

弱光微光亮度計是一種測光和測色的計量儀器。是每個化學分析實驗室常用儀器設備之一在各種定量和定性分析中得到了廣泛的應。微光亮度計在稀土材料、熒光材料、反光服飾等微光檢測專用儀器。

SS200LM是遮光筒式弱光微光亮度計（輝度計、全數字微光亮度計），采用 SMT32芯片、嵌入式系統，高速16位AD取樣精度高，精密放大電源電路、低功耗，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。該儀器測量應急出口標志、背光源、面光源等的亮度均勻性測量，經濟實用，操作簡易。亮度探頭V（λ）修正水平達國家標準級（CLASS A），實現亮度的精確測量工作

鋁合金機身、154寸IPS觸摸屏、上下線設置、分選測試、光度 變化曲線（PC軟件）、16位100KS/s采樣（高速）、亮度、平均亮度、最大亮度、最小亮度、透射比

一、參數性能

型號	SS200LW弱光微光照度計
光譜響應	Λ380-780nm
測試功能	亮度(mcd/m2)、、亮透射比(%)、亮照度(mcd/m2·h)、亮照度(mcd/m2)
傳感器	硅光器件
測量范圍	1mcd/m²-10000cd/m²
分辨率	1m cd/m2
V(λ)失配誤差	f1'≤3.5%（標準級 standard class）or f1'≤5%（一級 class 1）
余弦修正特性	f2'≤2%（標準級）or f2'≤4%（一級）
感光面積	Φ8mm（customized according to needs）
測試范圍	±4%（according to JJG245-2005）or ±1%（according to JJG245-2005）
測量誤差	測量最大允許誤差：一級(±4%讀數±1個讀數）
光學測量準確度	探測器余弦修正V(λ)修正水平，達到國家l一級照度計要求；
顯示方式	1.54IPS 觸摸屏
通訊	Type-C 接口藍牙
用戶校正功能	修正系數功能、校零、定標
外形尺寸	50mm50mm60mm
使用環境	溫度：18℃～30℃ 濕度：35%RH～75%RH
量程	自動量程
電池容量	1600mAh高容量電池一次充電可使用12小時左右
重量	135g
顯示刷新率	10次／秒；
采樣	16位100KS/s 高速AD